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矽晶封測
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矽晶封測
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ADVANCED PACKAGE RELIABILITY LAB
封裝可靠度與環境測試
依照封裝測試條件,執行30秒可靠度驗證。
正在讀取員工階級…
封裝可靠度驗證
可選擇高溫工作壽命、溫度循環、濕熱偏壓與ESD靜電耐受測試。
檢測條件
高溫壽命 HTOL 125°C
溫度循環 -40°C~125°C
濕熱偏壓 85°C/85%RH
ESD 靜電耐受
抽測數量
10 顆封裝晶片
25 顆封裝晶片
50 顆封裝晶片
100 顆封裝晶片
開始封裝可靠度檢測
HTOL
高溫工作壽命
TCT
冷熱循環耐受
THB
濕熱偏壓可靠度
ESD
靜電放電耐受
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